型号:美国FEI Quattro S
功能:用于材料表面、断面形貌观察,微区成分定性定量分析。
技术参数:
﹡分辨率:1.0nm(30KV, SE)
﹡附件:X射线能谱仪(EDS)、电子背散射衍射仪(EBSD)
﹡放大倍数:300万倍